2020年3月13日，南京邮电大学南通研究院宣布与芯测科技(iSTART-Tek，简称iSTART)开展合作。
芯测科技深耕于开发内存测试与修复技术，此次合作提供便捷版内存测试开发平台『EZ-BIST』以及相关课程培训，协助南邮南通研究院学生培养可测试性设计的概念和专业能力，在内存测试领域快速与产业直接接轨，增加未来就业竞争力。
芯测科技业务发展部副总暨代理发言人张容诚表示，随着集成电路迈向更先进的技术节点，加上SoC芯片的复杂度也越来越高，如何通过可测试性设计来减少芯片测试周期和成本，并在量产中控制产品品质变得越来越重要。芯测科技在访问客户的过程中，看到越来越多客户有成立可测试性设计部门的需求，但苦于相关人力的缺乏。所以希望通过大学计划，与各院校的电子、电机、计算机、通信等相关系所合作，协助客户解决上述问题。而与学界知名的南京邮电大学南通研究院展开合作是这个计划的重要起点，希望通过与相关高校、科研院所持续合作来提升芯测科技在产学合作方面的深度。
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芯测科技
芯测科技是目前在提供内存测试与修复解决方案的领导厂商，提供各式内存包含SRAM，DRAM，eFlash，MRAM/RRAM，MTP完整的可测试性设计。『EZ-BIST便捷版内存测试开发平台』是秉持着帮助开发者以更简单、更快速、更低成本的途径实现优化的内存测试电路的一套EDA工具。凭借高效能、低功耗可程序化暨管线式架构内存测试技术，从整体的芯片设计切入，透过易使用的图像化人机接口(GUI)设定相关参数及选项，全自动的辨识SoC设计中的内存并将其分群，并且具有完善测试算法、硬件架构共享、诊断信息纪录与设计电路自动整合等完整功能。让用户能轻易产生优化的内存测试电路的，大幅减少设计成本与时间，以提升测试良率、降低测试成本，提高产业竞争力。
南京邮电大学南通研究院
南京邮电大学南通研究院位于江苏省省级高新区——南通市北高新技术产业开发区，2016年8月，由南京邮电大学与南通市港闸区人民政府合作共建，2017年9月正式运营。研究院是独立法人的新型研发机构，注册资金3000万元。研究院聚焦集成电路封装与测试，围绕“人才培养、科技创新、产业服务”三大平台建设，强化“政产学研用”协同创新，为地方经济发展提供重要的人才、技术和资源支撑。
